(1)
Lukin, V.; Kryvenko, S.; Li, F.; Abramov, S.; Abramova, V.; Kovalenko, B.; Dohtiev, I.; Arkhipov, O.; Stojanović, N.; Bondžulić, B.; Mykhalichenko, P.; Cherniavska, T.; Cherniavskyi, B.; Nadtochii, V.; Nadtochyi, A.; Korkh, M.; Zghurska О.; Kasian, S.; Nakonechna, K.; Mudra, Y.; Rusnak, A.; Nadtochii, I.; Harahulia, A.; Bobrovskyi, O.; Krytskyi, D.; Kaidan, E.; Chekhovsky, A.; Kalinichenko, Y.; Koliesnik, O.; Safyan, O.; Drozd, O.; Matviienko, M.; Kalinichenko, I. Pattern Recognition in Surveillance Systems and Diagnostics; Lukin, V., Ed.; Scientific Route OÜ®: Tallinn, Estonia, 2026. https://doi.org/10.21303/978-9908-845-05-0.